Veřená zakázka

SUSEN - Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí

Číslo ve věstníku:

Druh zadávacího řízení:

Lokalita:

Kategorie:

Technologie, stroje, přístroje a elektronika,
Technologie, stroje, přístroje a elektronika -> Technologie, stroje a přístroje

CPV kódy:

38511000-0 - Elektronové mikroskopy,
38511100-1 - Snímací elektronové mikroskopy

Popis:

Rastrovací elektronový mikroskop s autoemisním FEG zdrojem - Shottkyho katodou, vhodný pro výzkum zejména radioaktivních kovových materiálů, umožňující výzkum také materiálů vyrobených práškovou metalurgií, nevodivých materiálů, keramických vzorků či kompozitů. Mikroskop je vybaven EDS detektorem pro stanovení chemického složení mikroobjemů materiálů pomocí energiově-dispersní mikroanalýzy rtg-záření a vysokorozlišovacím WDS detektorem s možností detekce lehkých i těžkých prvků. Rozlišení mikroskopu v SE přï urychlovacím napětí 30 kV je alespoň 1,2 nm. Mikroskop je přizpůsoben pro umístění do izolovaného prostředí polohorké komory pro měření radioaktivních vzorků. Podrobná technická specifikace je v Příloze č. 1 Zadávací dokumentace.

Upozornění: pro zobrazení zadávacích podmínek se registrujte ZDARMA nebo se přihlašte.

Termíny:

Datum zahájení zakázky:

30.10.2014
Lhůta pro podání nabídek do:

06.01.2015
Termín otevírání obálek:

06.01.2015

Informace o zadavateli

Upozornění: pro zobrazení informací o zadavateli se registrujte ZDARMA nebo se přihlašte.

Další podobné zakázky:

Název zakázky	Místo plnění
Skenovací elektronový mikroskop s ultravysokým rozlišením	Pardubický kraj
SUSEN - Řádkovací elektronové mikroskopy SEM a SEM-FIB	Celá Česká republika
Dodávka duálního systému SEM/FIB (otevřené řízení, dodávky )	Pardubický kraj
Konfokální a rastrovací elektronový mikroskop – rozděleno na části II.	Celá Česká republika
Analytický skenovací transmisní elektronový mikroskop s příslušenstvím	Celá Česká republika
RCPTM/PřF – Mikroskop SEM/FIB	Celá Česká republika
Scanning Electron Microscope (SEM) and its accessories	Celá Česká republika
Environmental Scanning Electron Microscope TP16_513	Celá Česká republika
Rastrovací elektronový mikroskop s velkou komorou, EDS analyzátorem, EBSD detektorem a nanoindentorem 2019/0065	Celá Česká republika
114_Ve_Rastrovací elektronový mikroskop s energiově disperzní analýzou	Celá Česká republika