Veřená zakázka

Dodávka duálního systému SEM/FIB (otevřené řízení, dodávky )

Číslo ve věstníku:
492633
Druh zadávacího řízení:
Otevřené řízení
Lokalita:
Pardubický kraj
Kategorie:
Technologie, stroje, přístroje a elektronika, 
Technologie, stroje, přístroje a elektronika ->  Technologie, stroje a přístroje
CPV kódy:
38511000-0 - Elektronové mikroskopy,
38511100-1 - Snímací elektronové mikroskopy
Popis:

Předmětem veřejné zakázky je nákup duálního systému SEM/FIB, který umožní charakterizaci a analýzu vodivých i nevodivých materiálů ve velmi vysokém rozlišení a s jehož pomocí bude možné též vytvářet nanostruktury lokální modifikací materiálů fokuzovaným iontovým paprskem nebo svazkem elektronů.

warning
Upozornění: pro zobrazení zadávacích podmínek se registrujte ZDARMA nebo se přihlašte.

    Termíny:

  • calendar_today 
    Lhůta pro podání nabídek do:
    09.12.2014
  • calendar_today 
    Termín otevírání obálek:
    09.12.2014

Další podobné zakázky:

Název zakázky
Skenovací elektronový mikroskop s ultravysokým rozlišením place Pardubický kraj
SUSEN - Řádkovací elektronové mikroskopy SEM a SEM-FIB place Celá Česká republika
SUSEN - Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí place Středočeský kraj
Konfokální a rastrovací elektronový mikroskop – rozděleno na části II. place Celá Česká republika
Analytický skenovací transmisní elektronový mikroskop s příslušenstvím place Celá Česká republika
RCPTM/PřF – Mikroskop SEM/FIB place Celá Česká republika
Scanning Electron Microscope (SEM) and its accessories place Celá Česká republika
Environmental Scanning Electron Microscope TP16_513 place Celá Česká republika
Rastrovací elektronový mikroskop s velkou komorou, EDS analyzátorem, EBSD detektorem a nanoindentorem 2019/0065 place Celá Česká republika
114_Ve_Rastrovací elektronový mikroskop s energiově disperzní analýzou place Celá Česká republika