Veřená zakázka
V 00734 – dodávka mikroskopu atomárních sil
Zdravotnictví, sociální služby -> Přístroje Technologie, stroje, přístroje a elektronika,
Technologie, stroje, přístroje a elektronika -> Technologie, stroje a přístroje
Předmětem plnění této zakázky je dodání plnění předpokládaného v rámci dotačního projektu „Inovace výroby optických bezpečnostních prvků pro zabezpečení polykarbonátových dokladů“.
Technické parametry jsou následující s tím, že zadavatel umožňuje jejich modifikaci při zachování principu, kdy výkonové a rozsahové parametry jsou stanoveny jako minimální a příkonové, rozměrové a váhové parametry jako maximální, pakliže není u konkrétního parametru uvedeno něco jiného, s tolerancí tak, aby zařízení mohlo být instalováno v místě pro toto zařízení určeném.
Tato zakázka zahrnuje i dopravu, montáž, uvedení do provozu v místě určeném zadavatelem. Vybraný dodavatel zodpovídá za to, že zakázka bude dodána kompletní a bude obsahovat všechny díly potřebné k bezvadnému provozu. Pro výrobu budou použity pouze originální (nerepasované) komponenty.
Technická specifikace stanovuje základ minimálních požadavků na funkci, výkony, životnost apod.
Obsahuje-li ZD nebo její přílohy konkrétní obchodní názvy či značky, jedná se pouze o vymezení požadovaného standardu a zadavatel umožňuje i jiné technicky a kvalitativně srovnatelné řešení.
Mikroskop atomárních sil (dále jen „AFM“) musí splňovat specifikace a požadavky, které jsou uvedeny níže:
Systém by se měl skládat z:
1. Hlavní jednotky se standardním zobrazovacím módem topografie operujícím v kontaktním módu, tapping módu a bezkontaktním módu. (3 módy)
2. Sestávat z kompletního 3D skenovacího systému s příslušenstvím pro zobrazení ve velkého rozlišení.
3. Automatické kontroly skenování, která optimalizuje stav skenování bez ztráty kvality dat nebo zahrnuje speciální operační módy jiné než 3 módy provozu popsané výše.
4. Měl by pojmout velké vzorky alespoň s rozměry 150 x 150 x 20 mm (XYZ), musí zahrnovat plně motorizovaný XY pojezd a motorizovaný Z pojezd.
5. Software
6. Počítač
7. Příslušenství
AFM musí umožňovat minimálně tyto operační módy
1. Kontaktní AFM mód
2. Tapping AFM mód
3. Bezkontaktní AFM mód
4. Mód laterálních sil (Lateral Force Mode)
5. Fázové zobrazování
6. Mód statické síly (Force Mapping Mode)
7. Silová spektroskopie (Force Distance Spectroscopy)
AFM hlava
1. Pro AFM hlavu musí použita dioda s vlnovou délkou nad 630 nm, aby nedošlo k osvětlení opticky senzitivních materiálů.
Skenování
1. Velikost skenovacího skeneru XY musí být alespoň 100 μm x 100 μm, po celou dobu životnosti zařízení.
2. XY skener musí mít přesnost ovládání polohy 1 nm nebo méně.
3. Rozsah motorizovaného Z skeneru musí být alespoň 30 μm nebo lepší pro měření vzorků s hlubokými strukturami ve směru osy Z.
4. Z skener musí mít přesnost ovládání polohy skenování 1 nm nebo lepší.
5. Z skener musí mít šum topografie 0.05 nm nebo méně.
Pojezdy
1. Motorizovaný XY pojezd o velikosti rozsahu pojezdů alespoň 150 mm x 150 mm (plně motorizované pojezdy).
2. Opakovatelnost XY pojezdu je menší než 2 µm jednosměrně a 3 µm dvousměrně.
3. Motorizovaný Z pojezd s pojezdovým rozsahem alespoň 25 mm.
4. AFM systém musí obsahovat separátní motorizované ostření synchronizované se Z pojezdem.
5. AFM systém musí zahrnovat automatické přiblížení hrotu k povrchu vzorku za použití Z pojezdu.
6. Všechny pojezdy musí být plně ovládány měřícím programem a umožnit plně automatickou obsluhu systému.
Vzorky
1. Maximální velikost měřeného vzorku alespoň 150 mm x 150 mm x 20 mm (vhodné pro měření 6 palcových křemíkových waferů)
2. Musí být obsažen speciální držák vzorku, který umožní měření kolmých stěn. (vertikální stěny na měřeném vzorku).
Uchycení hrotu
1. AFM systém musí umožnit uživatelům používat hroty zakoupené od třetí strany.
2. Snadná výměna hrotu.
3. Automatické přiblížení hrotu k povrchu vzorku (neoptickou metodou) s garancí zamezení poškození hrotu i při měření průhledných vzorků.
Software
1. AFM systém by měl mít oddělený software pro analýzu dat a pro měření.
2. Měřící software:
a. Software pro získání dat by měl být uživatelsky přívětivý.
b. Plně software-integrované automatizační funkce: Automatické sekvenční měření, AFM systém sekvenčně naskenuje vzorek v uživatelem vybraných souřadnicích, oddálení hrotu, přesun na další vybrané souřadnice, přiblížení hrotu k povrchu vzorku, opakované měření.
c. Program pro získání dat musí mít vestavná makra, která mohou být snadno nahrána a použita pro opakovatelné operace jako je posuv XY nebo Z posuvu pro charakteristickou oblast nebo obnovení operace. Uživatelé mohou upravovat existující makra nebo vytvořit svá vlastní, pokud je potřeba.
d. Kompatibilita měřených dat s volně přístupným softwarem (open source).
3. Software pro analýzu dat:
a. Možnost instalace software do počítačů uživatelů pro analýzu mimo AFM systém.
b. Software nezávislý na operačním systému podporovaný ve Windows, Linux a Mac OS X.
PC – minimální konfigurace
1. CPU alespoň 19 450 bodů na https://www.cpubenchmark.net/ nebo lepší.
2. 16 GB DRAM (rozšiřitelná paměť).
3. 1x 512 GB SSD disk nebo větší.
4. 2 x 1 TB pevné disky.
5. 2 x FullHD monitor.
6. Včetně operačního systému.
Podpůrný optický systém
1. AFM systém musí umožňovat přímý pohled na vzorek a raménko hrotu shora.
2. Optika a kamerový systém musí mít rozlišení 1 μm nebo lepší.
3. Zobrazovací systém by měl poskytnout zorné pole 840 µm × 630 µm nebo lepší (za použití objektivu 10x).
4. Osvětlovací systém musí kontrolovaný softwarem.
Příslušenství
1. Akustický kryt: Měl by zamezit vnějším akustickým a světelným vlivům.
2. Aktivní antivibrační izolační systém.
3. Stůl
4. Kalibrační vzorky
5. Systém pro vakuové uchycení vzorku.
Zakázka není rozdělena na části.
Zadavatel nehodlá s účastníky jednat o nabídkách ve smyslu čl. 5.4 Pravidel.
-
calendar_todayLhůta pro podání nabídek do:22.12.2023