Veřená zakázka

UPT-VZ-20-02: Mikroskop atomárních sil (AFM)

Předmětem veřejné zakázky je komplexní dodávka, instalace a uvedení do úplného provozu mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskop atomárních sil (AFM, z eng. Atomic Force Microscopy) je měřicí přístroj využívaný ke studiu povrchových vlastností vodivých i nevodivých vzorků. AFM je schopen snímat trojrozměrné mapy (topografie) a povrchové vlastností vzorku a to jak na vzduchu, tak i v kapalném prostředí, s velmi vysokým laterálním, vertikálním a silovým rozlišením. Měřící sonda AFM je tvořena velmi ostrým hrotem, který je upevněn na ohebném nosníku. Mechanizmus měření u AFM je založen na bodovém snímání interakcí přitažlivých a odpudivých sil mezi atomy na špičce měřícího hrotu a atomy na povrchu vzorku. Měření probíhá při rastrování hrotové sondy nad povrhem vzorku jenž je realizovaného pomocí piezoakutátorů umožňující velmi přesný pohyb sondy v horizontálním směru.

Termíny:

• calendar_today 

  Datum zahájení zakázky:

  22.06.2020
• calendar_today 

  Lhůta pro podání nabídek do:

  27.07.2020