CPV kód
38514200-3 - Skenovací sondové mikroskopy
Upozornění:
Vidíte pouze první 3 z celkových 19 veřejných zakázek v této kategorii.
Pro zobrazení dalších zakázek se přihlašte nebo zaregistrujte.
| Datum podání nabídek |
Název veřejné zakázky |
| po lhůtě | AFM for advanced electrical characterization |
| po lhůtě | UHV, low temperature SPM with magnetic field for Electron Spin Resonance (ESR) experiments - REISSUE |
| po lhůtě | UHV, low temperature SPM with magnetic field for Electron Spin Resonance (ESR) experiments |